電子材料中有害重金屬Cd和Pb的分析案例

背景

近年來，對環境問題的關注日益增加，鎘和鉛被用作穩定劑，特別是在塑料阻燃劑和電線電纜涂層材料中。歐盟內部制定了 WHEE（廢棄電氣電子設備）和 RoHS（限制在電氣和電子設備中使用某些有害物質）等法規，有害物質（汞、鎘、鉛、六價鉻、PBB?PBDE) 的使用受到限制。這次，我們將介紹使用能量色散 X 射線熒光光譜儀 (OURSTEX150RoHS) 輕松進行的低濃度 Cd/Pb 分析。

測量條件

• 測量裝置：OURSTEX150RoHS

• 探測器：SDD（硅漂移探測器）

• 管電壓/電流：48kV-AUTO

測量結果

圖 1 顯示了 Cd 和 Pb 的測量曲線。樣品是在氯乙烯樹脂中添加 Cd 和 Pb 制成的糊狀物。與空白樣品相比，即使在低濃度下，33ppm Cd-Kα 和 43ppm Pb-Lα 也清楚地顯示出峰。圖 2 顯示了每個的校準曲線數據。通過設置 ROI 范圍并使用具有背景減法的綜合強度獲得標準曲線。此外，表 1 顯示了每個測量時間的檢測下限。

概括

OURSTEX 150RoHS 結構緊湊，不需要液氮或冷卻水，因此具有成本效益。另外，由于使用熒光X射線分析法，樣品處理容易，測定也容易。此外，SDD檢測器、鎢管和特殊濾光片的使用可以同時分析鎘和鉛，靈敏度高，測量時間短。該設備適用于電線包覆劑和各種塑料等電子零件中微量重元素的分析。

推薦設備

能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX160RoHS"