銅箔/鋁箔針孔檢測(cè)設(shè)備介紹

鋁箔是很薄的鋁，根據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)組織定義：厚度范圍從0.2mm到極限的0.006 mm。鋁箔的制造過程，從2mm和4mm板材中軋制處理，在此過程中的鋁胚料，依次冷軋，直到線圈達(dá)到所需的厚度。鋁箔對(duì)光、氧氣、味道、水分、細(xì)菌有很好的隔絕性能，它廣泛用于食品和藥品包裝。在雙軋機(jī)過程中，同時(shí)分離的兩個(gè)箔，可以得到很薄的箔(厚度范圍從6到30µm)。

　　由于薄箔的微滲透、生產(chǎn)環(huán)境等原因，生產(chǎn)過程中難免會(huì)造成的針孔。傳統(tǒng)做法是，在復(fù)卷的過程中，安排人工對(duì)這些針孔檢測(cè);但是由于人眼會(huì)產(chǎn)生疲勞、人眼分辨率有限、人工成本過高等原因，并不能對(duì)箔100%目視檢測(cè)。為了檢測(cè)這些缺陷，許多鋁箔廠商使用了自動(dòng)檢測(cè)儀。

包裝產(chǎn)品針孔檢測(cè)原理

1 針孔檢查方法

左圖為包裝針孔檢查裝置的檢查概要。
當(dāng)包裝件通過測(cè)試電極下方時(shí)，如果檢測(cè)到針孔或密封缺陷，則測(cè)試電極和內(nèi)容物之間以及接地電極和內(nèi)容物之間都會(huì)發(fā)生放電。
該裝置檢測(cè)有無這種放電，并確定包裝產(chǎn)品是否有針孔。

2、針孔檢測(cè)原理

圖4是用電氣等效電路代替針孔檢查的示意圖。

C1是測(cè)試電極和內(nèi)容物之間形成的電容，C2是接地電極和內(nèi)容物之間形成的電容。R是內(nèi)容物的電阻。

如果接地電極做得比測(cè)試電極大，并且電極結(jié)構(gòu)使得C2的阻抗與C1相比可以忽略不計(jì)，則可以將其視為C1和R的串聯(lián)電路，如圖5所示。

此外，如果內(nèi)容物具有導(dǎo)電性且可以忽略電阻，則電路結(jié)構(gòu)將與前一節(jié)的圖3相同，從而可以進(jìn)行穩(wěn)定的針孔檢查。

如果在電極之間施加電壓，該電壓破壞了空氣絕緣性而不破壞包裝材料，則如果包裝材料中存在針孔或密封不良，就會(huì)發(fā)生放電。通過檢測(cè)該放電的有無，可以判斷產(chǎn)品是否有針孔。

固定式針孔檢查機(jī)【型號(hào)：APH-D30C】

采用高壓放電針孔檢測(cè)，在灌裝前對(duì)絕緣材料（塑料蓋、塑料瓶、玻璃瓶、陶瓷）等的針孔缺陷進(jìn)行非接觸式檢查。
具有5至30kV的寬可變電壓范圍，可用于檢測(cè)瓶蓋、薄膜等各種產(chǎn)品。
*可以通過更改規(guī)格來適應(yīng)使用上述以外的電壓。
　請(qǐng)聯(lián)系我們。

主要特點(diǎn)

• 可以集成到自動(dòng)化機(jī)器中的多功能型

• 穩(wěn)定，適合高速檢測(cè)

• 除了自診斷電路、高壓線斷線檢測(cè)、

  采用外部測(cè)試電壓輸出（4-20mA）等，大大提高了可靠性。