簡易型微量金屬污染物采樣設(shè)備（SC系列）

SC-3100
●通過與計算機聯(lián)機，可選擇豐富多樣的采樣模式，對晶圓正面以及端面的微量金屬污染物進行采樣操作。
●因為不太需要外部資源，也不太占地方，易于導入。
●采樣操作由設(shè)備自動完成，無需熟練工就可輕松完成采樣操作。
●采樣液的供給和支架具的移動由設(shè)備自動操作，與SC-2000相比，可以減少由操作員引起的污染。

SC-8100
●具有對親水晶圓污染物進行采樣的功能、對于硅材質(zhì)以外的晶圓、由于基體蝕刻等導致表面粗糙的晶圓也可進行采樣操作。
●對于晶圓表面狀態(tài)、采樣液種類的要求不苛刻，另外，還可以對非重金屬離子進行采樣。
●當然，也可以進行傳統(tǒng)的憎水采樣操作。

SC-9100
●具有對親水晶圓污染物進行采樣的功能、對于硅材質(zhì)以外的晶圓、由于基體蝕刻等導致表面粗糙的晶圓也可進行采樣操作。
●對于晶圓表面狀態(tài)，以及采樣液種類的采樣限制，本設(shè)備有所突破，另外，也可以對非重金屬離子進行采樣。
●當然，也可以進行常規(guī)的憎水采樣操作。
●采樣液的供給和支架具的移動由設(shè)備自動操作，與SC-8100相比，可以減少由操作員引起的污染。

※1，2: 追加項目需要另外計費，另外，對于親水狀態(tài)的晶圓，不能進行端面采樣，謹請諒解。
※3：配置電腦需要另外計費。