日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA
*與工業技術研究院共同開發?
圖1是從正電子進入金屬材料到??消失的示意圖。
正電子壽命測量方法是一種精que地測量在產生陽離子時發射的γ射線與在一對電子消失時產生的γ射線之間的時間差（正電子壽命）的技術。
隨著材料中孔隙缺陷的增多和位錯密度的提高，正電子壽命會增加。
我們已經開發了一種反巧合（AC）系統，該系統可區分發射到樣品另一側的正電子信號。1） （圖1）
通過采用交流系統，可以在不將輻射源與測量樣品夾在中間的情況下測量正電子壽命。因此，即使只有一個測試件，也可以進行測量。此外，它可以安全使用，而無需麻煩地處理輻射源。
1） M.Yawakiki等人JJAP 50（2011）086301
日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA
| 正電子源 | Na-22（?1 MBq） |
| 計數率 | 約100 cps |
| 測量范圍 | 40 ns（與金屬，半導體和聚合物兼容） |
| 配飾 | ? HDO4024（Teledyne LeCroy制造的DSO）， （HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm]） ·程序 ·筆記本電腦等。 |
